導(dǎo)波雷達(dá)料位計
簡要描述:雷達(dá)料位計對于安裝空間有一定的要求,注意介質(zhì)的介電常數(shù),并依據(jù)介電常數(shù)的大小選擇適合的型號,測量穩(wěn)定,高精度傳感模塊,質(zhì)量保證。
所屬分類:智能導(dǎo)波雷達(dá)物位計
更新時間:2022-06-30
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的簡介
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播,當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時,導(dǎo)波雷達(dá)料位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置,導(dǎo)波雷達(dá)料位計的發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比,回波的極性和振幅取決于上層介質(zhì)與下層介質(zhì)的介電常數(shù)εr
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的特點
導(dǎo)波雷達(dá)料位計是測量料位的*方法;導(dǎo)波雷達(dá)料位計測量不受罐體形狀的影響;也不受介電常數(shù)、溫度、壓力與密度的影響;導(dǎo)波雷達(dá)料位計的測量長度可以靈活變更,無須標(biāo)定;測量結(jié)果具有高精度、可重復(fù)性、高分辨率;NIVELCO導(dǎo)波雷達(dá)料位計的測量范圍可達(dá)24米,適用的介質(zhì)溫度范圍-50℃∽ 250℃,適用的壓力范圍高達(dá)40bar;導(dǎo)波雷達(dá)料位計有多種探頭類型和材質(zhì)可供選擇;數(shù)字化顯示和防爆認(rèn)證可供選擇。[1]
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的技術(shù)優(yōu)勢
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的技術(shù)優(yōu)勢:雷達(dá)料位計對液體、顆粒及漿料連續(xù)物位測量。測量不受介質(zhì)變化、溫度變化、惰性氣體及蒸汽、粉塵、泡沫等的影響。雷達(dá)料位計的精度為5mm,量程60米,耐250度高溫、40公斤高壓,雷達(dá)料位計適用于爆炸危險區(qū)域。
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的技術(shù)參數(shù)
精度 液體:量程小于15m時,±5mm;
量程大于15時,測量值5mm±0.05%
固體:20mm±0.05%
溫度飄移 0.01%/℃
重復(fù)性 2mm
介質(zhì)溫度 -50~250℃
法蘭溫度 -30~200℃/-30~150℃
防爆型環(huán)境溫度 -30~60℃/-30~55℃
防爆型耐壓 40bar
表頭顯示 LCD
可選標(biāo)準(zhǔn)輸出 4~20mA/HART
故障診斷輸出 22mA
供電 18~35VDC/ 小于28VDC
防爆型外殼材料 鑄鋁還氧涂層防護(hù)等級 NEMA(IP65)防爆 ATEX II 1G 或II 1/2 D T 100℃ EEX ia II C T6...T3或EEX ia II B T6...T3
重量 2Kg(無探頭)
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的應(yīng)用指南
導(dǎo)波雷達(dá)料位計適用于酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、小型儲油罐。各類導(dǎo)電、非導(dǎo)電介質(zhì)、腐蝕性介質(zhì)。如煤倉、灰倉、油罐、酸罐等
雷達(dá)料位計的優(yōu)點
雷達(dá)料位計是非接觸式測量或TDR導(dǎo)波式測量
雷達(dá)料位計應(yīng)用電磁脈沖進(jìn)行快速測量,精度高,抗*力強
耐腐蝕(探頭大多采用316不銹鋼或PVDP等材料)
耐壓高(40Kg/cm2)
耐溫高(200℃)
雷達(dá)料位計的注意事項
雷達(dá)料位計對于安裝空間有一定的要求
注意介質(zhì)的介電常數(shù),并依據(jù)介電常數(shù)的大小選擇適合的型號
導(dǎo)波雷達(dá)料位計的不同類型比較
導(dǎo)波雷達(dá)料位計是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達(dá)料位計,雷達(dá)料位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播,當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時,雷達(dá)料位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置,發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比,經(jīng)計算得出液位高度。
調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)料位計是根據(jù)調(diào)頻連續(xù)波原理(FMCW)。使用線性調(diào)頻高頻信號,雷達(dá)料位計高頻信號的發(fā)射頻率隨一定時間間隔(掃描頻率)線性v增加,由于發(fā)射頻率是隨著信號傳播的時間變化的,與反射物體距離成比例,由當(dāng)前發(fā)射頻率與接收的反射頻率的差值獲得物位高度。
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